ZMIKE臺式外形尺寸激光測徑儀， 測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)精(jing)(jing)度高(gao)，測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)速度快，可(ke)單次或連續測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)，可(ke)滿(man)足不同測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)應用(yong)領域(yu)。與傳統(tong)的(de)(de)(de)(de)接觸式外形幾(ji)何(he)尺寸(cun)測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)比較，BenchMike采(cai)(cai)用(yong)了激光非接觸測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)原(yuan) 理。對原(yuan)始測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)數據自動采(cai)(cai)集、處理，數字顯(xian)示(shi)(shi)等(deng)技術，降低了由于(yu)測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)方法及測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)人員造成的(de)(de)(de)(de)誤差。從而提(ti)高(gao)了測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)的(de)(de)(de)(de)精(jing)(jing)度。友好界面的(de)(de)(de)(de)顯(xian)示(shi)(shi)控制(zhi)軟(ruan)件及多種接口 用(yong)于(yu)數據及通訊，將使用(yong)者從繁重(zhong)的(de)(de)(de)(de)測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)中解放出來(lai)。特(te)別是(shi)對于(yu)一些柔軟(ruan)、易(yi)碎(sui)、輻射、高(gao)精(jing)(jing)度要(yao)求等(deng)傳統(tong)接觸測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)束手無策的(de)(de)(de)(de)被測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)任務，BenchMike 可(ke)提(ti)供滿(man)意(yi)的(de)(de)(de)(de)測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)。

主要特點：
◆ 測(ce)量精度高，測(ce)量速度快(kuai)。可滿足不同測(ce)量應用領(ling)域
◆ 豐富的(de)測量(liang)模(mo)式滿足不同的(de)測量(liang)應(ying)用(yong)
◆ 采用(yong)了全新數據處理(li)技(ji)術，圖形(xing)用(yong)戶(hu)交互(GUI)界面、快(kuai)捷按鍵使測(ce)量更直觀(guan)，操作更便利
◆ 具有測(ce)量應(ying)用庫及自編輯(ji)被測(ce)量功能，配合(he)夾具及多(duo)種輸入/出口，使(shi)儀表具備(bei)良好(hao)的測(ce)量擴充能力(li)
◆ 單點及雙點自(zi)動(dong)校(xiao)準(zhun)功能(neng)，減(jian)少了使(shi)用條(tiao)件的變化對測量的影響，使(shi)儀表維護(hu)更方便

測量原理(li)：                                            
采用(yong)激(ji)(ji)光(guang)(guang)(guang)掃(sao)描原理(li)進行測(ce)(ce)(ce)量，如(ru)右圖所示，激(ji)(ji)光(guang)(guang)(guang)發生裝置產(chan)生的(de)(de)激(ji)(ji)光(guang)(guang)(guang)，照(zhao)射在馬達驅動的(de)(de)高(gao)速旋轉棱鏡上(shang)，通過(guo)發射透(tou)鏡組在測(ce)(ce)(ce)試區間中形(xing)成標準(zhun)掃(sao)描平(ping)行光(guang)(guang)(guang)束，測(ce)(ce)(ce) 試區間中的(de)(de)被(bei)測(ce)(ce)(ce)量物(wu)(wu)體(ti)遮擋光(guang)(guang)(guang)束形(xing)成的(de)(de)陰影，會在光(guang)(guang)(guang)電收集端(duan)形(xing)成信號(hao)的(de)(de)階(jie)躍，階(jie)躍寬度及位(wei)置決定(ding)了被(bei)測(ce)(ce)(ce)量物(wu)(wu)體(ti)的(de)(de)直徑及在測(ce)(ce)(ce)試區間位(wei)置等參(can)數。

型 號      測(ce)量(liang)范(fan)圍       重(zhong)復(fu)性  線性誤(wu)差         測(ce)量(liang)光(guang)斷面高度 測(ce)量(liang)光(guang)斷面景深(shen)  光(guang)點尺寸 掃描(miao)光(guang)速率

                mm               µm         µm                  mm             mm           µm     次/秒(miao)

4025S    0.10 - 25.4      ±0.30    ±0.90              56.1        ±1.5 x 25       125     100

4025G    0.10 - 25.4      ±0.13    ±0.50              56.1        ±1.5 x 25       125     100

4050S    0.25 - 50        ±0.50    ±1.50              77.5         ±3 x 50        250     100

4050G    0.25 - 50        ±0.25    ±0.76              77.5         ±3 x 50        250     100

4100HP   2.50 - 100       ±0.30    ±0.8                --            --            250     500

4120C    2.50 - 112       ±0.50    ±5.0                --            --  ;          250     500

4120F    0.25 - 115       ±0.80    ±5.0                --            --            250     500

4120HP   0.25 - 115       ±0.50    ±3.8                --            --            250     500

4130C    0.25 - 130       ±0.80    ±5.0       ;         --            --            250     500

2050     0.36 - 50        ±0.64    ±2.5                --            --         ;   250     500

2100     1.30 - 100       ±1.50    ±6.4                --            --            250     500

2140     0.76 - 140       ±5.00    ±20                 --            --            250     500

2190     1.10 - 190       ±7.50    ±25                 --            --            250     500

2330     6.35 - 330       ±12.0    ±76                 --            --            250     500