X射線工業CT斷層掃描測量儀
簡要描述：
Werth將X射(she)線掃描(miao)成像技術整合到(dao)三坐標測量系統(tong)，WERTH X射(she)線工業CT斷層掃描(miao)測量儀(yi)可(ke)(ke)實(shi)現產(chan)品無損可(ke)(ke)視化準確測量，并(bing)可(ke)(ke)選配光學、光纖、探(tan)針、激(ji)光掃描(miao)等多種(zhong)傳(chuan)感(gan)器。對工件內(nei)外部所有結構(gou)尺寸全面的高精密(mi)測量，同時可(ke)(ke)實(shi)現工件材質的缺陷(xian)分(fen)析。
產品時間(jian)：2020-06-30
WERTH X射線工業CT斷層掃描測量儀介紹：
德國Werth公司是將X射線掃(sao)描成(cheng)像技(ji)術(shu)整合到三(san)坐標(biao)測(ce)(ce)量(liang)(liang)系(xi)統，實(shi)現(xian)產品無損可視(shi)化準(zhun)確測(ce)(ce)量(liang)(liang)，并(bing)可選配光學、光纖、探針、激光掃(sao)描等(deng)多(duo)種傳感(gan)器。對工件內(nei)外部(bu)所有結(jie)構尺寸全面(mian)的(de)(de)高精(jing)密測(ce)(ce)量(liang)(liang)，同時(shi)可實(shi)現(xian)工件材(cai)質(zhi)的(de)(de)缺陷分析(xi)。可對塑料、陶瓷、復合材(cai)料、金屬等(deng)多(duo)種材(cai)質(zhi)制成(cheng)的(de)(de)產品進行無損尺寸測(ce)(ce)量(liang)(liang)和裝(zhuang)配評估(gu)等(deng)。壓縮測(ce)(ce)量(liang)(liang)周期的(de)(de)同時(shi)，保證了高品質(zhi)的(de)(de)要求。Werth工業CT斷層掃描測量(liang)儀此(ci)機榮(rong)獲2005年度歐洲模具設(she)計金獎。
WERTH X射線工業CT斷層掃描測量儀特點：
◆ 將X射線斷層掃(sao)描成(cheng)像技術整(zheng)合到三坐標測(ce)量(liang)系統，實現(xian)復雜部件高精度內(nei)外尺寸全面(mian)測(ce)量(liang)
◆ 可選配(pei)第二個(ge)Z軸，配(pei)置其他傳(chuan)感器(qi)（光學(xue)、探 針、光纖、激光等）
◆ Werth公司技術復合(he)式傳感器技術，進(jin)一步(bu)保證 CT測量數據更(geng)準(zhun)確
◆ 堅固的(de)花崗巖基座，保(bao)證機器具(ju)有高穩定性
◆ 高精(jing)密機械軸承技術(shu)及線(xian)性導(dao)軌(gui)系統(tong)，確保實現zui 高精(jing)度的(de)測量
◆ 無論從設(she)計還是結構，測(ce)量(liang)機*并(bing)超出(chu)X射線(xian)使用安全(quan)標(biao)準
◆ 基于Werth公司優(you)異的圖形處理及3D重構技(ji)術，測量(liang)速(su)度(du)更(geng)快
◆ Werth公司技術的X射線傳感器獨(du)立校(xiao)準(zhun)系統
◆ Werth公司技術(shu)的柵(zha)格斷(duan)層(ceng)掃描技術(shu)：
; 精密測量微(wei)小部件
; 掃描(miao)更大尺寸工件，提高分辨(bian)率
擴(kuo)展測量范圍
◆ 測量軟(ruan)件可(ke)快速(su)3D重構(gou)，也可(ke)進行2D測量
◆ 測量工件內部尺(chi)寸的同時，也可實(shi)現(xian)材質缺陷分析
◆ 選用(yong)廣泛(fan)應用(yong)的WinWerth軟件 (德國(guo)國(guo)家(jia)計(ji)量院PTB長(chang)度標準(zhun)認證) ，界面友好(hao)，操作簡單
◆ 可使用zui擬合Bestfit及公差擬合Tolerancefit軟(ruan)件(jian)進行(xing)輪廓匹配(pei)分析及三(san)維CAD工件(jian)公差比(bi)對
◆ 廣泛(fan)應用于(yu)復雜尺寸測量，*評估，逆向工程，質量控制等
Werth工業CT斷層掃描測量(liang)儀應用領域: 模(mo)具行業、逆向工程、汽(qi)車行業、航空(kong)航天、精密(mi)機械加工、船舶等。
WERTH X射線工業(ye)CT斷層掃(sao)描(miao)測量儀技術參數：
| 型 號 | TomoScope | TomoCheck | TomoScope HV Compact | TomoScope HV |
| zui大(da)測量(liang)工(gong)件尺寸(直(zhi)徑) | 90mm | 90mm | 350mm | 350mm |
| zui大測量高度 | 200mm | 200mm | 350mm | 500mm |
| zui大允許誤差 (用CT傳感器(qi)) | (4,5+L/75) µm | (1,5+L/500) µm | (4,5+L/75) µm | (4,5+L/75) µm |
| zui大允許誤(wu)差(E1:單軸精度) | (2,5+L/120) µm | (0,5+L/900)µm | (2,5+L/120) µm | (2,5+L/120) µm |
| (E2:平面精(jing)度) | (2,9+L/100) µm | (0,7+L/600) µm | (2,9+L/100) µm | (2,9+L/100) µm |
| (E3:空間精度(du)) | (4,5+L/75) µm | (1,5+L/500) µm | (4,5+L/75) µm | (4,5+L/75) µm |
| X射線源(yuan) | 130kV(150,190kV可選) | 130kV | 225kV | 225kV(450kV可(ke)選) |
| X射線探(tan)測器像素 | 1024x1024 | 1024x1024 | 1024x1024 | 2048x2048 |
| X射線探測(ce)器尺(chi)寸 | 50x50mm | 50x50mm | 200x200mm | 400x400mm |
| 分(fen)辨率 | 0.1µm | 0.1/0.01µm | 0.1µm | 0.1µm |
| 定(ding)位速度(du) | 150mm/s | 60mm/s | 150mm/s | 150mm/s |
| 加(jia)速度 | 300mm/s2 | 250 mm/s2 | 350 mm/s2 | 350 mm/s2 |
| 工作(zuo)臺承重 | 2kg | 10kg | 40kg | 40kg |
| 電源 | 230V +/-10% | 3x400V/N/PE | 3x400V/N/PE | 3x400V/N/PE |
| 氣壓(ya) | 7-10bar | 7-10bar | 7-10bar | 7-10bar |
| 儀器(qi)自重 | 3000kg | 6000kg | 8500kg | 11000kg |
1). 依據標準ISO 10360和VDI/VDE 2617，使用TP200, WFP測(ce)量或CT傳感(gan)器選擇同(tong)(tong)等及(ji)更高(gao)精度(du)(du)探(tan)針修正或光學傳感(gan)器選用同(tong)(tong)等及(ji)更高(gao)精度(du)(du)探(tan)針修正
2). Temp: 20℃±2k, △=1K/h m≤2kg
