德國WerthTomoScope X射線坐標測量機
簡要描述：
德國WerthTomoScope X射線(xian)坐標測(ce)量機
產品(pin)時間：2020-03-12
Werth*家將(jiang)X射線(xian)掃(sao)描成像技術整合到(dao)三坐標測量(liang)系統，實現產品無(wu)損(sun)可(ke)(ke)視(shi)化準確測量(liang)，并可(ke)(ke)選配光(guang)學(xue)、光(guang)纖、探針、激光(guang)掃(sao)描等多(duo)種(zhong)傳感器。對工件(jian)內外部(bu)所(suo)有結(jie)構尺(chi)寸(cun)全(quan)面的(de)(de)(de)高(gao)精密測量(liang)，同時可(ke)(ke)實現工件(jian)材(cai)質(zhi)的(de)(de)(de)缺陷分析(xi)。可(ke)(ke)對塑(su)料、陶(tao)瓷(ci)、復合材(cai)料、金屬等多(duo)種(zhong)材(cai)質(zhi)制成的(de)(de)(de)產品進行無(wu)損(sun)尺(chi)寸(cun)測量(liang)和裝(zhuang)配評估等。壓(ya)縮測量(liang)周期的(de)(de)(de)同時，保證了(le)高(gao)品質(zhi)的(de)(de)(de)要求。此機榮(rong)獲(huo)2005年度歐洲(zhou)模具設計(ji)金獎。
Tomo測量機主要特點：
◆ *家將X射線斷層(ceng)掃(sao)描(miao)成像技(ji)術(shu)整合到三坐標(biao)測量系統(tong)，實現復(fu)雜部件高(gao)精度內(nei)外尺寸全面測量
◆ 可選配第二個Z軸(zhou)，配置其他傳感器（光(guang)學、探 針、光(guang)纖、激光(guang)等(deng)）
◆ Werth公司技術復(fu)合式傳感器技術，進一步保證(zheng) CT測量(liang)數(shu)據更準(zhun)確(que)
◆ 堅固的花崗巖基(ji)座，保證機器具有高穩定性(xing)
◆ 高精(jing)密機械軸(zhou)承技(ji)術(shu)及線性導軌系統(tong)，確保實現zui 高精(jing)度(du)的測量
◆ 無論從(cong)設計還是(shi)結構，測量(liang)機(ji)*并(bing)超出(chu)X射線使(shi)用安全標(biao)準(zhun)
◆ 基于Werth公司(si)優異的圖形處(chu)理及3D重構技術，測(ce)量速度更快
◆ Werth公司(si)技術的(de)X射線傳感器(qi)獨立(li)校準(zhun)系統
◆ Werth公司(si)技術的柵格(ge)斷層掃描技術：
精密測量微小部件
掃(sao)描更大(da)尺寸工件(jian)，提(ti)高(gao)分(fen)辨率
擴展測量范圍
◆ 測量(liang)軟件可(ke)快速3D重構，也可(ke)進行(xing)2D測量(liang)
◆ 測量工件內部尺寸的(de)同時，也可(ke)實現材質缺(que)陷分析
◆ 選用廣(guang)泛應用的WinWerth軟件(jian) (德(de)國國家計量院PTB長度標(biao)準(zhun)認證) ，界面(mian)友好，操作簡單
◆ 可使用(yong)*擬(ni)合(he)Bestfit及(ji)(ji)公差擬(ni)合(he)Tolerancefit軟件進(jin)行(xing)輪廓匹配分(fen)析及(ji)(ji)三維CAD工件公差比對
◆ 廣(guang)泛應用于(yu)復(fu)雜尺(chi)寸測量，*評(ping)估，逆向工程，質量控制等
應(ying)用領域: 模具行業、逆(ni)向工程、汽車(che)行業、航空(kong)航天(tian)、精密機械加工、船舶等(deng)
技術參數(shu)：
型 號 | TomoScope HA | TomoCheck | TomoScope HV Compact | TomoScope HV 500 |
zui大測量工(gong)件尺寸(直徑) | 90mm | 90/200/200mm | 180/350mm | 360/500mm |
zui大測(ce)量高度 | 285mm | 240/360/400mm | 180/520mm | 380/700mm |
zui大允(yun)許誤差 (用CT傳感器) | (4,5+L/75) µm | (1,5+L/500) µm | (4,5+L/75) µm | (4,5+L/75) µm |
zui大允許誤差(E1:單軸精度) | (2,5+L/120) µm | (0,5+L/900)µm | (2,5+L/120) µm | (2,5+L/120) µm |
(E2:平面精度) | (2,9+L/100) µm | (0,7+L/600) µm | (2,9+L/100) µm | (2,9+L/100) µm |
(E3:空間精度) | (4,5+L/75) µm | (1,5+L/500) µm | (4,5+L/75) µm | (4,5+L/75) µm |
X射(she)線源可選 | 130/150/190kV | 130/150/190/225kV | 225/300/320kV | 225/300/320/450kV |
X射(she)線(xian)探測器像素(su) | 1024x1024 | 1024x1024 | 2048x2048 | 2048x2048 |
X射線(xian)探(tan)測器尺(chi)寸 | 50x50mm | 50x50mm | 200x200mm | 400x400mm |
分辨(bian)率 | 0.1µm | 0.1/0.01µm | 0.1µm | 0.1µm |
定位速度 | 150mm/s | 60mm/s | 150mm/s | 150mm/s |
加速度 | 300mm/s2 | 250 mm/s2 | 350 mm/s2 | 350 mm/s2 |
工(gong)作臺(tai)承重 | 2kg | 10kg | 40kg | 40kg |
電源 | 230V +/-10% | 3x400V/N/PE | 3x400V/N/PE | 3x400V/N/PE |
氣壓 | 7-10bar | 7-10bar | 7-10bar | 7-10bar |
儀器自(zi)重 | 3000kg | 6000kg | 11000kg | 13000kg |
1). 依據標(biao)準ISO 10360和VDI/VDE 2617，使用TP200, WFP測量或CT傳感(gan)器選擇同等(deng)及更(geng)高精度(du)探(tan)針修正或光學(xue)傳感(gan)器選用同等(deng)及更(geng)高精度(du)探(tan)針修正
2). Temp: 20℃±2k, △=1K/h m≤2kg
X射(she)線(xian)穿透(tou)能力：
Werth獨(du)有(you)的(de)用(yong)于高(gao)精(jing)度、高(gao)分辨率測量的(de)穿透型(xing)標靶射線源(yuan)。此標靶在高(gao)管電壓（如300KV）和大管電流的(de)情(qing)況下能(neng)夠長(chang)時(shi)間穩定地(di)保持微米級(ji)的(de)焦點尺寸(cun)，這樣(yang)就能(neng)用(yong)微米級焦點的(de)X射線快速的(de)高(gao)精度、高(gao)分辨率進行(xing)測量(liang)高(gao)密度（如鋼）較大尺寸(cun)的(de)零(ling)件。
| 類別 | TomoScope | ||||
| 射線源功率 | 130KV | 150KV | 190KV | 225KV | 300KV |
| 鋼/陶瓷 | 5mm | 8mm | 25mm | 40mm | 70mm |
| 鋁 | 30mm | 50mm | 90mm | 150mm | 250mm |
| 塑料 | 90mm | 130mm | 200mm | 250mm | 450mm |
| 射線管 | 關 | 關 | 開 | 開 | 開 |
| 光源類型 | 反射 | 反射 | 反射/透射 | 反射/透射 | 反射/透射 |
| 光斑尺寸 | 0.00Xmm-0.Xmm | 0.00Xmm-0.Xmm
| 0.00X mm – 0.X mm (反射(she)) ≤ 0.00X mm (透射) | 0.00X mm – 0.X mm (反射) ≤ 0.00X mm (透射) | 0.00X mm – 0.X mm (反射(she)) ≤ 0.00X mm (透(tou)射) |
應用實例：
