平面度，是屬于形位公差中的一種，指物體表面具有的宏觀凹凸高度相對理想平面的偏差。在傳統的檢測方法中，平面度的測量方法通常有(you)：塞(sai)規/塞(sai)尺測(ce)量(liang)法、液(ye)平(ping)(ping)面法、激光平(ping)(ping)面干涉(she)儀測(ce)量(liang)法（平(ping)(ping)晶(jing)干涉(she)法）、水平(ping)(ping)儀/數字水平(ping)(ping)儀測(ce)量(liang)法、以及打(da)表測(ce)量(liang)法。

　　塞尺(chi)測(ce)量法(fa)，只需一(yi)套(tao)可隨(sui)身攜帶的(de)塞尺(chi)就可隨(sui)時隨(sui)地進行(xing)平(ping)面(mian)(mian)度的(de)粗(cu)測(ce)。目前很多工廠仍(reng)使用該方法(fa)進行(xing)檢測(ce)。由(you)于其(qi)精度不高(gao)，常規zui薄塞尺(chi)為10um，檢測(ce)效率(lv)較低，結果不夠全面(mian)(mian)，只能檢測(ce)零件邊緣。

　　液平(ping)(ping)(ping)面(mian)法，基于(yu)連通器工(gong)作原理，適合(he)測(ce)量(liang)連續(xu)或不連續(xu)的大平(ping)(ping)(ping)面(mian)的平(ping)(ping)(ping)面(mian)度，但測(ce)量(liang)時間長，且對溫度敏感(gan)，僅(jin)適用于(yu)測(ce)量(liang)精度較低的平(ping)(ping)(ping)面(mian)。

　　激光(guang)(guang)平面(mian)干涉儀測(ce)(ce)量法，zui典(dian)型的用(yong)法是平晶干涉法。但主要于測(ce)(ce)量光(guang)(guang)潔的小平面(mian)的測(ce)(ce)量，如(ru)千分頭測(ce)(ce)量面(mian)，量規的工作面(mian)，光(guang)(guang)學透鏡(jing)。

    丹青公(gong)司聯合德國LAMTECH的推出(chu)非接觸激光平面度測量(liang)儀，LAMTECH平面(mian)度(du)快速測(ce)量儀(yi)，采用(yong)掠入射(she)光干涉(she)原(yuan)理(li)，專注于(yu)高(gao)精密加工表面(mian)平面(mian)度(du)快速測(ce)量評估(gu), 廣(guang)泛應用(yong)于(yu)航(hang)空航(hang)天，汽車工業噴油嘴行業，泵、閥門密封件表面(mian)，以及光學工程，激(ji)光工程等(deng)領域

      德國LAMTECH平面度測量儀快速測量平面度的測量方法，高效快速，即可(ke)以用于(yu)車(che)間(jian)現場全檢測，也可(ke)以用于(yu)實驗室平面(mian)度測量研究。

　　水平儀(yi)測(ce)量(liang)(liang)法(fa)，廣泛用(yong)于工(gong)件表面(mian)的直線度(du)和平面(mian)度(du)測(ce)量(liang)(liang)。測(ce)量(liang)(liang)精度(du)高、穩定性(xing)好(hao)、體積小、攜帶方便。但是(shi)用(yong)該方法(fa)測(ce)量(liang)(liang)時需要(yao)反復(fu)挪動儀(yi)器位置(zhi)，記錄各測(ce)點(dian)的數據，費時、費力，調整時間長，數據處理程序繁(fan)瑣(suo)。

　　打表測量法，典型應用為平(ping)板測微儀及三(san)坐標儀，其中優以三(san)坐標儀為應用zui廣(guang)泛。測量時(shi)指示器在(zai)待測樣品上移動，按選(xuan)定的(de)布點(dian)測取各測量點(dian)相(xiang)對于測量基準(zhun)的(de)數據，再經過(guo)數據處理評定出(chu)平(ping)面度誤(wu)差。但其效率(lv)較低，通常一個(ge)樣品需要幾分鐘，離15ppm的(de)期(qi)望相(xiang)差甚(shen)遠。