薄膜測厚儀
簡要描述：
瑞(rui)士SYLVAC薄膜(mo)測(ce)厚儀(yi)用于測(ce)量較軟或較硬材料薄膜(mo)厚度，根據測(ce)量材料可選擇不同(tong)(tong)測(ce)力范圍滿足不同(tong)(tong)測(ce)量任(ren)務需(xu)求(qiu)。低測(ce)力可達0.06N，高分(fen)辨率0.01μm。
產品時間：2020-06-30
瑞士SYLVAC薄膜測厚儀用于測量較軟或較硬材料薄膜厚度，根據測量材料可選擇不同測力范圍滿足不同測量任務需求。低測力可達0.06N，高分辨率0.01μm。
適用(yong)于電子行(xing)業(ye)，光(guang)伏(fu)行(xing)業(ye)，醫療(liao)行(xing)業(ye)，新能(neng)源(yuan)汽車(che)行(xing)業(ye)，鋰電池行(xing)業(ye)用(yong)于測量(liang)(liang)薄(bo)膜厚(hou)度，具有精度高，測量(liang)(liang)效率快的特點。
而且這款薄膜測厚儀可(ke)實(shi)現數(shu)據傳輸，支持數(shu)據導(dao)(dao)入導(dao)(dao)出，很(hen)方便的(de)將數(shu)據進行(xing)采集及分析(xi)，可(ke)追溯性強，滿足車間現場已經實(shi)驗室對于(yu)薄膜(mo)的(de)測量(liang)需求。
 | 分(fen)辨(bian)率：0.1μm 測力：0.3-1.3N（根(gen)據需要(yao)選擇） |
 | 分辨率：1μm 測力：0.4-1.6N（根據需要選(xuan)擇） |
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